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構造スリット検査で特許申請/ICタグを活用/日建経中央技研
// 本文の表示 画像がセットされていない場合は、画像分の余白ができてしまうのでtxtクラスは使わない。 ログインしていない場合も画像は表示しない。?>日本建設業経営協会中央技術研究所(深澤協三所長)は、JSP(東京都千代田区、酒井幸男社長)と共同開発した「ICタグを用いた構造スリット施工検査方法」を特許申請した。
この検査方法は、近距離無線通信による自動認識技術のICタグを活用し、RC造の柱・梁(はり)と非耐力壁を構造的に絶縁する構造スリットの入れ忘れを防ぐ。
具体的には、型枠の組み立て前に構造スリットの両端にICタグを貼り付けて、型枠の組み立て後やコンクリートの打設後にスキャナーを使ってICタグを読み取る。型枠やコンクリート内であっても構造スリットの位置や設置個所数を照合できる。
竣工後の不具合事例として散見される構造スリットの入れ忘れを防止するとともに、型枠組み立て・コンクリート打設時のスリット設置位置の目印設置、型枠解体後の目視検査の強化・写真による記録といった、入れ忘れ確認作業の省力化につながる。
日建経技術研究センターで実施した基礎実験では、構造スリットの位置、設置個所数を検出できることを確認した。今後は実用化に向け、日建経会員企業が施工する現場での実証実験を予定している。開発には高橋誠治、友利格、小暮直親の3氏と深澤所長が携わった。
残り50%掲載日: 2020年8月20日 | presented by 建設通信新聞